ATD-312型 EVA體積表面電阻率測試儀所有測試電壓（100/250/500/1000V） 測試時電阻結(jié)果直讀，免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩，使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便 EVA TPU薄膜體積表面電阻率測定儀

ATI212電阻率檢測儀既可測量超高電阻，又可測極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及的技 術(shù)，使儀器體積小、重量輕、準確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時直接顯示流過被測電阻的電流。電阻量程從1×104Ω ～1×1018Ω， 電流測量范圍 為2 ×10-4A ～1 ×10-16A。

體積電阻率測試儀廠家 材料高阻測試測量如防靜電產(chǎn)品（防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等）電阻值的檢測； 材料體電阻（率）和表面電阻（率）測量；

絕緣漆體積表面電阻率測試儀電流測量范圍： 2 ×10-4A ～1 ×10-16 A； 直接顯示電阻率； 體積小、重量輕、準確度高； 獨的被測電阻、流過電阻和電阻率顯示，使操作測量更加方便

電線電纜導體半導體材料電阻率測試儀本儀器配不同的測量電極（夾具）可以測量不同材料（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導率，*符合國家標準GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法　等標準要求。

LST-121體積表面電阻率測試儀范圍使用環(huán)境: 溫度 -10℃～50℃ 相對濕度90%。ATI-212電阻率檢測儀 6. 測試電壓: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%

BD-86A型半導體電阻率測試儀是根據(jù)四探針測試原理研制成功的新型半導體電阻率測試器，適合半導體器件廠、材料廠用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率、方塊電阻（薄層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻、導電薄層電阻，具有測量精度高、范圍廣、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、價格低等特點。

四探針方阻電阻率測試儀硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.