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    高絕緣電阻測(cè)量?jī)x

    簡(jiǎn)要描述:型高絕緣電阻測(cè)量?jī)x是按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006/IEC 60093:1980:《固體絕緣材料體電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》研制的多用途綜合測(cè)量裝置,它可以測(cè)試固體絕緣材料體電阻率和表面電阻率,也可單獨(dú)作為超高電阻計(jì)或微弱電流表使用。

    • 更新時(shí)間:2025-02-10
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    詳細(xì)介紹

    LST-122型(固體絕緣材料高絕緣電阻測(cè)量?jī)x)!是按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006/IEC 60093:1980:《固體絕緣材料體電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》研制的多用途綜合測(cè)量裝置,它可以測(cè)試固體絕緣材料體電阻率和表面電阻率,也可單獨(dú)作為超高電阻計(jì)或微弱電流表使用。

    測(cè)試儀特增設(shè)雙窗口同步顯示測(cè)試結(jié)果(電阻率或表面電阻)及測(cè)試條件(電壓或電流)功能

    高絕緣電阻測(cè)量?jī)x器主要由主機(jī)、高壓測(cè)試臺(tái)等部分組成。主機(jī)主要由高壓電源、數(shù)控可編程放大器、高分辨率ADC、鍵盤輸入、顯示驅(qū)動(dòng)及嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。高壓測(cè)試臺(tái)主要由標(biāo)準(zhǔn)環(huán)形三電極和連接線等組成!對(duì)于小面積高阻薄膜類樣品方阻測(cè)試可以選配小型方阻探頭。

    器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校功能;可自動(dòng)/手動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)量簡(jiǎn)便、讀數(shù)方便等特點(diǎn)。

    本儀器適用于防靜電產(chǎn)品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。

    二、技術(shù)參數(shù)

    1. 測(cè)量范圍、分辨率測(cè)試電壓范圍UX: 0.1V ~1000V.

    電阻測(cè)試范圍RX: 1×102Ω ~5×1018Ω,   分辨率1/2000,

    電流測(cè)試范圍IX: 1.5× 10-3A ~ 10× 10-12A,分辨率1/2000。

    體積電阻率測(cè)試范圍ρV: FV×102Ω-cm ~FV×1018Ω-cm,F(xiàn)V體電阻率修正系數(shù)1~99,默認(rèn)標(biāo)準(zhǔn)三電極FV=23.76cm/h

    表面電阻率測(cè)試范圍ρS: FS×102Ω/□~FS×1018Ω/□,F(xiàn)S表面電阻率修正系數(shù)1~99,默認(rèn)標(biāo)準(zhǔn)三電極FS=34.55

    2.電阻量程劃分(電阻率要乘以相應(yīng)修正系數(shù)1~99)、測(cè)試條件及誤差等級(jí)

    序號(hào)

    量程

    有效測(cè)量范圍

    測(cè)試電壓

    測(cè)試電流

    誤差

    1

    103Ω-cm/□

    0.100~1.000

    1.00V

    1.000~0.100 mA

    ±5% FSB

    2

    103Ω-cm/□

    01.00~10.00

    10.0V

    1.000~0.100 mA

    ±3% FSB

     

    3

    103Ω-cm/□

    010.0~450.0

    100V

    1.000~0.100 mA

    4

    106Ω-cm/□

    0.450~4.500

    500V

    1.000~0.100 mA

    5

    106Ω-cm/□

    04.50~50.00

    500V

    100.0~010.0μA

    ±5% FSB

    6

    106Ω-cm/□

    050.0~500.0

    500V

    10.00~1.00μA

    7

    109Ω-cm/□

    0.500~5.000

    500V

    1.000~0.100μA

    8

    109Ω-cm/□

    05.00~50.00

    500V

    100.0~010.0 nA

     

    ±8%FSB

     

    9

    109Ω-cm/□

    050.0~500.0

    500V

    10.00~01.00 nA

    10

    1012Ω-cm/□

    0.500~5.000

    500V

    1.000~0.100 nA

    11

    1012Ω-cm/□

    05.00~50.00

    500V

    100.0~010.0 pA

    ±10%FSB






    3. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸(以標(biāo)準(zhǔn)電極為)

            徑:  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 寬(W)×長(zhǎng)(L)≥90mm×90mm,或直徑 Φ≥90mm

            度:  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 厚度d≤2.5mm,   

    4. 電源:

    功耗:主機(jī)< 15W

    輸入: 220V±10%   50Hz

    5. 本儀器工作條件為:

        度:   0~35℃

    相對(duì)濕度:   ≤60%

    工作室內(nèi)應(yīng)無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾,不與高頻設(shè)備共用電源。

    6. 外形尺寸:

          機(jī):  320mm(長(zhǎng))×320 mm(寬)×135mm(高)

    高壓測(cè)試臺(tái):  Φ=100mm(底座直徑)×80 mm(高)


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